基于IIC与SPI时序存储器动态老化系统
基本信息
| 申请号 | CN201810081627.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110097918A | 公开（公告）日 | 2019-08-06 |
| 申请公布号 | CN110097918A | 申请公布日 | 2019-08-06 |
| 分类号 | G11C29/56 | 分类 | 信息存储; |
| 发明人 | 李泽新;尹楠 | 申请（专利权）人 | 西安西测测试技术股份有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 710023 陕西省西安市莲湖区丰禾路275号太奥广场商业区11号楼2单元22308室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及老化技术领域，尤其涉及基于IIC与SPI时序存储器动态老化系统。主控模块采用单片机作为控制芯片，触感器模块采用DS18B20作为温度传感器反馈温度，报警电路模块包含蜂鸣器，通信模块能够实现通信；所述的主控模块通信连接着显示模块、输入按键模块、传感器模块、报警电路模块、通信模块、继电器模块；主控模块的算法算法采用PID温度控制，预测误差变化趋势，从而可以实现超前调节；经PID控制以后，使得整个老化过程中温度得以有效控制。能够做到高温动态老化，能够使得产品达到国军标对动态老化的标准要求，比如元器件可以耐高温，科学性更好，且能实现动态反馈，智能控制。 |
