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芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质

基本信息

申请号 CN202010184821.0 申请日 -
公开（公告）号 CN111370345B 公开（公告）日 2021-11-16
申请公布号 CN111370345B 申请公布日 2021-11-16
分类号 H01L21/66（2006.01）I 分类 基本电气元件;
发明人 苏春琪;刘宇航;张伟;门洪达 申请（专利权）人 广西天微电子有限公司
代理机构 广州华进联合专利商标代理有限公司 代理人 罗平
地址 542800广西壮族自治区贺州市生态产业园标准厂房三期3号楼
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种芯片检测方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质，所述芯片检测方法包括：获取待检测芯片的第一图像；调整所述第一图像的角度以获取第二图像，所述第二图像中待检测芯片的设定列引脚沿设定的方向排列；修正所述第二图像中的引脚反光区域以获取第三图像；根据所述第三图像携带的引脚参数信息获取待检测芯片的引脚检测结果。本发明通过调整所述第一图像的角度，降低了图片拍摄时芯片位置的偏差导致外观检测结果错误的风险；并通过修正所述第二图像中的引脚区域，有效避免了反光区域中的倒影引脚对引脚长度检测结果的影响。因此，本发明实现了一种检测效率高、出错率低的芯片外观自动检测方法。