一种抗电浪涌低压保护硅二极管及其制备方法

基本信息

申请号 CN201110116537.0 申请日 -
公开(公告)号 CN102194894A 公开(公告)日 2011-09-21
申请公布号 CN102194894A 申请公布日 2011-09-21
分类号 H01L29/861(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/329(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 陈福元;毛建军;胡煜涛;朱志远;王铮;任亮 申请(专利权)人 杭州杭鑫电子工业有限公司
代理机构 杭州求是专利事务所有限公司 代理人 杭州杭鑫电子工业有限公司;杭州晶地半导体有限公司
地址 310053 浙江省杭州市滨江区高新软件园7号楼
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种抗电浪涌低压保护硅二极管及其制备方法。它包括如下步骤:1)在P型硅单晶抛光片表面上扩散入N+型半导体杂质磷,得到PN+硅片;2)用电子化学清洗1#液和2#液清洗PN+硅片,经过纯水冲洗,将硅片甩干;3)在清洗后的PN+硅片上进行N-型外延生长,得到PN+N-硅片;4)在PN+N-硅片上扩散入N+型半导体杂质磷,得到PN+N-N+的硅片;5)在PN+N-N+硅片的双表面镀上金属层,进行合金,锯切,得到二极管芯片;6)将二极管芯片与封装底座焊接,上保护胶、压模成型封装成器件。本发明制造的抗电浪涌低压保护硅二极管具有生产设备通用,产品性价比高,市场广阔的特点。