一种兼容集成制造硅晶体二极管三极管的方法
基本信息
申请号 | CN201210383748.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN102915967A | 公开(公告)日 | 2013-02-06 |
申请公布号 | CN102915967A | 申请公布日 | 2013-02-06 |
分类号 | H01L21/8222(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 陈福元;毛建军;胡煜涛;朱志远;王铮;任亮;杨希望 | 申请(专利权)人 | 杭州杭鑫电子工业有限公司 |
代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 杭州杭鑫电子工业有限公司;杭州晶地半导体有限公司 |
地址 | 310053 浙江省杭州市滨江区高新软件园7号楼 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开了一种兼容集成制造硅晶体二极管三极管的方法。它包括如下步骤:在N-/N+型硅片的N-面上氧化、光刻、扩散入P型杂质,形成硅晶体三极管的P+型基区(B)和硅晶体二极管的P+型正极(+)区;在硅晶体三极管的P+型基区(B)上定域扩散入N型杂质,形成三极管的发射区(E),同时于硅晶体二极管的P+型正极(+)区周围选择扩散入N+型杂质,形成硅晶体二极管的负极(-)区;在各杂质扩散区上光刻开出引线孔、蒸发铝金属、光刻电极内引线、合金,制成硅晶体二极管三极管的集成芯片。本发明简化了集成工艺流程,降低生产成本,提高产品性价比。 |
