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一种光学双轴扫描系统

基本信息

申请号 CN202020753770.4 申请日 -
公开（公告）号 CN212255689U 公开（公告）日 2020-12-29
申请公布号 CN212255689U 申请公布日 2020-12-29
分类号 G01S7/481(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 秦胜光;尹嘉萍;王希涛;李荣忠;吴松华 申请（专利权）人 青岛镭测创芯科技有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 青岛镭测创芯科技有限公司
地址 266100山东省青岛市崂山区九水东路600号A区二层
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种光学双轴扫描系统，包括：方位扫描组件，包括方位扫描主体和传动连接于方位扫描主体的方位驱动源，方位扫描主体转动连接于承载板且旋转轴线为竖直轴线，方位驱动源用于驱动方位扫描主体绕竖直轴线旋转；俯仰扫描组件，包括俯仰扫描主体和俯仰驱动源，俯仰扫描主体转动连接于方位扫描主体且旋转轴线为水平轴线，俯仰驱动源用于驱动俯仰扫描主体绕水平轴线旋转。俯仰驱动源、方位驱动源设于承载板下方，俯仰扫描主体、方位扫描主体设于承载板上方，俯仰驱动源通过伸入于方位扫描主体的俯仰传动轴杆传动连接俯仰扫描主体，可相对减轻俯仰扫描组件和方位扫描组件分布于承载板上侧的重力，可提高光学双轴扫描系统放置的稳定性。