一种用于检测盖膜后的芯片字符的检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202110751399.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113433068A | 公开（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申请公布号 | CN113433068A | 申请公布日 | 2021-09-24 |
| 分类号 | G01N21/01（2006.01）I;G01N21/956（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 张祥明;刘圣祥;万求 | 申请（专利权）人 | 合肥图迅电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京知联天下知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 张陆军;张迎新 |
| 地址 | 230031安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园一期C4栋5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种用于检测盖膜后的芯片字符的检测装置，检测装置包括有第一发光组件、光路改变组件以及拍摄组件；第一发光组件，用于对芯片进行照明；光路改变组件，用于改变经过照明后，芯片的成像光路；拍摄组件，用于拍摄成像光路改变后，芯片的图像。本发明通过光路改变组件，改变经过照明后，芯片的成像光路，从而解决了字符显示效果不佳的芯片，难以检测字符的问题。 |
