用于LED的缺陷检测方法以及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110235766.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113160128A | 公开（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申请公布号 | CN113160128A | 申请公布日 | 2021-07-23 |
| 分类号 | G06T7/00;G06N3/04;G06N3/08 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 郑飞;林贵成;闫锋;李林林 | 申请（专利权）人 | 合肥图迅电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京清亦华知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 戴冬瑾 |
| 地址 | 230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号创新产业园一期C4栋5层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种用于LED的缺陷检测方法以及存储介质，用于LED的缺陷检测方法包括以下步骤：以深度卷积残差网络和特征金字塔网络作为特征提取器构建RetinaNet网络；构建LED训练图像集，并对LED训练图像集中的各LED训练图像进行缺陷标注，得到对应的缺陷目标信息；利用LED训练图像集中的各LED训练图像及其对应的缺陷目标信息，训练RetinaNet网络；利用训练好的RetinaNet网络，对获取的胶后LED图像进行缺陷检测。由此，该用于LED的缺陷检测方法，可以实现根据胶后LED产品的图像对胶后LED产品上的缺陷进行检测。 |
