一种用于光电探测器批量测试的载盘及载盘系统

基本信息

申请号 CN201620801649.8 申请日 -
公开(公告)号 CN205898177U 公开(公告)日 2017-01-18
申请公布号 CN205898177U 申请公布日 2017-01-18
分类号 G01D18/00 分类 测量;测试;
发明人 李开富;徐青;王麟;杨健 申请(专利权)人 鄂州市昌达投资控股集团有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道58号红桃K电商办公室第二层189号(Y)
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种用于光电探测器批量测试的载盘及载盘系统,该批量测试载盘包括多个阵列式分布的芯片槽,以及气孔、抽气孔、信号端金属桩、信号端金属引线、信号输出触槽、电源端金属桩、电源端金属引线和电源输入触槽。所述芯片槽、气孔以及抽气孔用以固定待测光电探测器;所述信号端金属桩、信号端金属引线以及信号输出触槽用以将待测光电探测器的测量信号读出;所述电源端金属桩、电源端金属引线以及电源输入触槽用以为待测光电探测器提供供电。所述批量测试载盘辅以信号输出接口和电源输入接口,构成了本实用新型所提供的批量测试载盘系统。本实用新型能够对成百上千个光电探测器同时进行快速高效的测试;并且可以方便地实现多个测试量的快速读取,进而方便地对测试量进行快速地统计分析。