基于回波波形累加和波形采样的激光测距系统
基本信息
| 申请号 | CN201822089739.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN209417298U | 公开（公告）日 | 2019-09-20 |
| 申请公布号 | CN209417298U | 申请公布日 | 2019-09-20 |
| 分类号 | G01S17/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 罗远; 贺岩; 胡善江 | 申请（专利权）人 | 上海大恒光学精密机械有限公司 |
| 代理机构 | 上海恒慧知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 上海大恒光学精密机械有限公司 |
| 地址 | 201800 上海市嘉定区清河路390号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 一种基于回波波形累加和波形采样的激光测距系统。该激光测距系统由主控电路、激光光源组件、发射接收光学组件、激光探测电路和高速信号采集电路组成。该激光测距系统将光子数分辨探测与高速数据采集相结合，实现了高灵敏度、高精度度、大动态范围的激光测距，本实用新型在实现远距离目标探测的同时，兼顾近距离目标的高精度测距，具有体积小、成本低、探测动态范围大、测距精度高、可实现多回波探测等优点。 |
