一种可移动式硅红外探伤检测设备
基本信息
| 申请号 | CN202121989834.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215768306U | 公开（公告）日 | 2022-02-08 |
| 申请公布号 | CN215768306U | 申请公布日 | 2022-02-08 |
| 分类号 | G01N21/95（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘鸿飞 | 申请（专利权）人 | 奥谱天成（厦门）光电有限公司 |
| 代理机构 | 厦门智慧呈睿知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 郭福利 |
| 地址 | 361000福建省厦门市集美区中科院稀土研究所1号楼7层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种可移动式硅红外探伤检测设备，其包括：光学扫描平台，其形成有用于避让硅块或者硅棒的通道；光源组件，其固定于所述光学扫描平台，并设置有光源；探测组件，其固定于所述光学扫描平台，并设置有光学探测器；其中，所述光源组件与所述探测组件设置于所述光学扫描平台相对的两侧，且所述光源与所述光学探测器处于同一光轴上。本实施例的可移动式硅红外探伤检测设备可以在不移动硅块、硅棒的前提下，对大体积或者大尺寸的硅块、硅棒进行全面的红外探伤，以分析裂缝、杂质、黑点、阴影等缺陷。此外，本实施例的可移动式硅红外探伤检测设备并不需要大的体积，操作便捷。 |
