标准单元库的形成方法及相关装置
基本信息
申请号 | CN202111407939.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114065676A | 公开(公告)日 | 2022-02-18 |
申请公布号 | CN114065676A | 申请公布日 | 2022-02-18 |
分类号 | G06F30/3312(2020.01)I;G06F30/3315(2020.01)I;G06F30/367(2020.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 戴明 | 申请(专利权)人 | 成都海光微电子技术有限公司 |
代理机构 | 上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | 曹守彬;李丽 |
地址 | 610041四川省成都市中国(四川)自由贸易试验区成都高新区天府大道中段1366号2栋天府软件园E5座12层23-32号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请提供标准单元库的形成方法:获取标准单元库的第一时序模型文件;获取预定工艺、预定温度和各个调整电压条件下的标准单元库的各个第二性能表征参数组,其中调整电压为预定电压降低后的电压;根据第一时序模型文件的第一性能表征参数组的性能表征参数值、各个第二性能表征参数组的性能表征参数值、预定电压和各个调整电压,获取分别与各个性能表征参数对应的退化函数,各个退化函数适于分别表示各个性能表征参数与电压降之间的关系;根据第一时序模型文件和各个退化函数生成标准单元库的第二时序模型文件。这样,可以实现利用静态时序分析方法实现电压降下的时序分析验证。 |
