一种MCU的DMA压力测试方法、设备及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011014185.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112162890B | 公开（公告）日 | 2021-09-21 |
| 申请公布号 | CN112162890B | 申请公布日 | 2021-09-21 |
| 分类号 | G06F11/22（2006.01）I;G06F11/36（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 毛海旭;王翔;刘吉平 | 申请（专利权）人 | 深圳市航顺芯片技术研发有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市君胜知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 吴志益;孙果 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙岗区平湖街道禾花社区平吉大道北159号恒路E时代大厦2201 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明所提供的一种MCU的DMA压力测试方法、设备及存储介质，包括：与待测MCU建立连接，按照预先选择的压力测试项目控制待测MCU进行DMA压力测试；当接收到待测MCU发送的启动发送指令时，根据所述启动发送指令获取待测MCU采集的DMA压力测试数据；对所述DMA压力测试数据进行图形显示分析，并将分析后的结果数据进行存储。本发明通过与待测MCU建立连接，通过发送响应的指令来控制待测MCU，使得MCU做出响应的操作，以得出MCU的DMA性能情况，并且，可以选择压力测试项目，提供了更为详细和全面的测试。 |
