一种荧光高光谱测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201910261976.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110160651B | 公开（公告）日 | 2022-03-08 |
| 申请公布号 | CN110160651B | 申请公布日 | 2022-03-08 |
| 分类号 | G01J3/44（2006.01）I;G01J3/02（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈兴海;刘业林;黄智辉;黄宇;王金龙;于金科 | 申请（专利权）人 | 江苏双利合谱科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都弘毅天承知识产权代理有限公司 | 代理人 | 邹敏菲 |
| 地址 | 214000 江苏省无锡市梁溪区南湖大道飞宏路58-1-108 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种荧光高光谱测试系统，本发明属于高光谱测试技术领域，涉及一种荧光高光谱测试系统。本发明的一种荧光高光谱测试系统，其光线依次通过第一聚焦透镜、光波导、激发滤光片组、导光管、第二聚焦透镜、反射镜、样品台、发射滤光片组，最后被高光谱相机捕捉，可为荧光高光谱成像提供较大面积的照射光斑，并使光线均匀的照射在样品上，增加成像效果，且避免了入射光直接照射样品带来损坏的问题，且光路互不影响，提高了检测的准确性；还可快速完成氙灯光源和卤素光源的切换，提高了工作效率。 |
