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逻辑扫描老化测试系统

基本信息

申请号 CN201811438616.1 申请日 -
公开（公告）号 CN109406902B 公开（公告）日 2021-03-19
申请公布号 CN109406902B 申请公布日 2021-03-19
分类号 G01R31/00(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 许小丽;张心标;曾辉 申请（专利权）人 中科曙光信息产业成都有限公司
代理机构 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 代理人 赵永刚
地址 610015四川省成都市天府新区华阳街道天府大道南段846号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种逻辑扫描老化测试系统。所述系统包括测试访问端口、多个控制器以及与每个控制器对应的模块内部老化测试相关控制电路，其中，所述测试访问端口为状态控制器，与每个控制器连接，用于控制捕获、移位或更新状态的跳转；所述控制器，与所对应的模块内部老化测试相关控制电路连接，用于产生老化测试需要的控制信号并发送给所述模块内部老化测试相关控制电路，并将所述模块内部老化测试相关控制电路生成的老化测试的结果发送给所述测试访问端口；所述模块内部老化测试相关控制电路，用于根据所述控制器产生的老化测试需要的控制信号，对待测电路进行老化测试，生成老化测试的结果。本发明能够降低芯片逻辑扫描老化测试的成本。