一种具有定位功能的扫描测试结构及方法
基本信息
| 申请号 | CN201811426840.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109444716B | 公开（公告）日 | 2021-08-10 |
| 申请公布号 | CN109444716B | 申请公布日 | 2021-08-10 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 曾辉;张心标;姜雪风;胡博 | 申请（专利权）人 | 中科曙光信息产业成都有限公司 |
| 代理机构 | 北京兰亭信通知识产权代理有限公司 | 代理人 | 赵永刚 |
| 地址 | 610015 四川省成都市天府新区华阳街道天府大道南段846号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种具有定位功能的扫描测试结构及方法，所述结构包括：具有至少一个扫描寄存器的扫描链和与所述扫描链连接并用于对扫描寄存器采用定位逻辑进行定位标记的定位模块，以使将所述定位模块用于定位标记的标记值随所述扫描链的数据值移出并对所述标记值和所述数据值进行分析判断故障的位置和分布状态。本发明能够大大提高定位故障解决故障的效率，并且还能够通过采用灵活高效的扫描测试结构有效的促进芯片工艺的改善芯片。 |
