一种基于递推最小二乘的抗扰动粗对准方法
基本信息
| 申请号 | CN202110936292.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113790720A | 公开（公告）日 | 2021-12-14 |
| 申请公布号 | CN113790720A | 申请公布日 | 2021-12-14 |
| 分类号 | G01C21/16（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘畅;徐策;刘峰 | 申请（专利权）人 | 北京自动化控制设备研究所 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 100074北京市丰台区云岗北里1号院3号楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开一种基于递推最小二乘的抗扰动粗对准方法，利用递推最小二乘方法对整个粗对准过程中的速度积分矢量进行二次拟合，用拟合得到的参数外推两个时间点的速度积分矢量，从而减小扰动线运动对粗对准带来的误差。该方法原理清晰，计算简捷，可适应垂直发射风扰、水面波浪、车辆行驶等动态条件，具有广阔的应用前景，能够在军用及民用领域取得良好的社会和经济效益。 |
