射频探针测试装置

基本信息

申请号 CN202022890896.9 申请日 -
公开(公告)号 CN213750024U 公开(公告)日 2021-07-20
申请公布号 CN213750024U 申请公布日 2021-07-20
分类号 G01R1/073;G01R31/28 分类 测量;测试;
发明人 周夏军;李银龙 申请(专利权)人 浙江中冀科技有限公司
代理机构 桂林文必达专利代理事务所(特殊普通合伙) 代理人 张学平
地址 315300 浙江省宁波市慈溪高新技术产业开发区新兴一路1号108室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了射频探针测试装置,所述调节组件位于所述底座的上方,所述测试组件位于所述底座的上方,所述下压组件位于所述测试组件的上方,所述竖板与所述底座固定连接,并位于所述底座的上方,所述竖板上设有两个竖向滑槽,所述横板位于所述竖板的上侧,所述探针板与两个所述竖向滑槽相配合,所述射频探针位于所述探针板的下方,所述探针头位于所述射频探针的下方,所述弹簧设置于所述射频探针内部,且所述弹簧的两端分别与所述射频探针和所述探针头相接触,通过上述结构设计,能够使得对PCBA板保护的同时,也便于对PCBA板的不同型号进行调节测试。