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半导体器件测试装置

基本信息

申请号 CN202030130028.3 申请日 -
公开（公告）号 CN305979990S 公开（公告）日 2020-08-11
申请公布号 CN305979990S 申请公布日 2020-08-11
分类号 10-05 (12) 分类 -
发明人 刘福红;罗佳;王叙夫 申请（专利权）人 深圳青铜剑科技股份有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 518000广东省深圳市坪山区坑梓街道办事处秀新社区锦绣中路14号深福保现代光学厂区B栋101
法律状态 -

摘要

摘要 1.本外观设计产品的名称：半导体器件测试装置。2.本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于对半导体器件的电性参数进行动态测试。3.本外观设计产品的设计要点：在于形状。4.最能表明设计要点的图片或照片：立体图。