一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201711126486.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108062491A | 公开（公告）日 | 2018-05-22 |
| 申请公布号 | CN108062491A | 申请公布日 | 2018-05-22 |
| 分类号 | G06K7/00;H04B5/00;H04B17/15;H04B17/24 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 冀京秋;贺明;陈伯俊 | 申请（专利权）人 | 中京复电（上海）电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 上海诺衣知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 中京复电（上海）电子科技有限公司 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区南汇新城镇环湖西一路99号10幢 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种无源UHF RFID芯片调制深度的测试方法，包括，使所述RFID标签读写器以一初始调制深度向一待测试芯片发送启动查询命令；如可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应，则以预定步长调整所述RFID标签读写器的调制深度至可接收到所述待测试芯片对所述启动查询命令的完整响应的临界值；记录所述临界值。本发明获得了以下有益效果：可对无源UHF RFID芯片的调制深度的容忍度进行有效的测试。 |
