红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202210305485.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114627026A | 公开（公告）日 | 2022-06-14 |
| 申请公布号 | CN114627026A | 申请公布日 | 2022-06-14 |
| 分类号 | G06T5/00（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 黄晟;付航;黄超 | 申请（专利权）人 | 武汉高德智感科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 430205湖北省武汉市东湖新技术开发区高新三路29号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了红外图像去除横竖纹的方法、系统、电子设备和存储介质，包括：对原始去横竖纹算法进行算法优化，获取优化后去横竖纹算法；通过ARM架构中的NEON运算单元根据所述优化后去横竖纹算法对待处理红外图像进行去除横竖纹计算。不仅通过优化原始去横竖纹算法，降低了原始去横竖纹算法中较影响计算速度的判断计算，提高了运算效率，而且通过ARM架构中的NEON运算单元执行去横竖纹算法，取代了原来需要的FPGA计算模块，降低了设备的生产成本。 |
