一种适用于微型断路器测试、校验与通电老化的一体化装置
基本信息
| 申请号 | CN202010329998.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113359018A | 公开（公告）日 | 2021-09-07 |
| 申请公布号 | CN113359018A | 申请公布日 | 2021-09-07 |
| 分类号 | G01R31/327 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 金福根;杨家发 | 申请（专利权）人 | 南京捷泰电力设备有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 211134 江苏省南京市江宁区汤山街道汤山工业园上峰片区谭寺路 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供的一种适用于微型断路器测试、校验与通电老化的一体化装置，包括：第一箱体、仪器仪表、温度调节装置。第一箱体内包含：传输线、固定装置、通电装置、执行机构；通电装置利用连接线与仪器仪表进行连接，并用开关元件实现通电装置与仪器仪表的接通与断开，以及控制开关元件的闭合与断开的顺序，将同一通电装置与不同的仪器仪表进行接通和断开，实现微型断路器的测试、校验与通电老化均在同一固定装置和同一通电装置下完成；其优点在于：将微型断路器的测试、校验及通电老化集中在同一个箱体内完成，不仅可以减少产品的搬运和所需生产场地的面积，还可以在老化的同时，灵活的对产品的功能进行反复测试，提高了产品的质量。 |
