一种RAM访问验证方法、设备及装置
基本信息
| 申请号 | CN202110431892.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113126926A | 公开（公告）日 | 2021-07-16 |
| 申请公布号 | CN113126926A | 申请公布日 | 2021-07-16 |
| 分类号 | G06F3/06（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 刘雕 | 申请（专利权）人 | 北京物芯科技有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京睿阳联合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 杨生平;王朋飞 |
| 地址 | 100089北京市海淀区知春路1号1幢15层1514室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种RAM访问验证方法、设备及装置，该方法通过根据逻辑访问时序信号，执行对RAM的逻辑访问；将所述逻辑访问时序信号、逻辑访问的数据和地址，传递给封装在RAM检查组件中的抽象RAM接口；所述RAM检查组件中的检查函数通过所述抽象RAM接口的逻辑访问时序信号，确定执行逻辑访问时，根据所述逻辑访问的数据和地址判断逻辑访问是否正确，实现有效提高IC验证过程中验证的完备性、加速验证的收敛、加速项目迭代的速度的技术效果。 |
