首页/ 北京物芯科技有限责任公司/ 专利详情

芯片的系统级测试方法、装置、计算机设备及存储介质

基本信息

申请号 CN202110450217.2 申请日 -
公开（公告）号 CN113238897A 公开（公告）日 2021-08-10
申请公布号 CN113238897A 申请公布日 2021-08-10
分类号 G06F11/22（2006.01）I;G06F11/26（2006.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 杨荟奇 申请（专利权）人 北京物芯科技有限责任公司
代理机构 北京品源专利代理有限公司 代理人 孟金喆
地址 100013北京市海淀区知春路1号1幢15层1514室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种芯片的系统级测试方法、装置、计算机设备及存储介质。所述方法包括：构建与目标报文对应的传输数据和预期信息，并将预期信息存储于预设的存储区中；将传输数据输入至与待测芯片匹配的参考模型中；通过参考模型中每个环境模块，更新当前流转至自身模块的传输数据中的接口数据，并在存储区的预期信息中加入与自身模块匹配的预期模块信息；根据待测芯片针对目标报文输出的实际处理结果，以及存储区中当前存储的预期信息，对待测芯片进行系统级测试。本发明实施例的技术方案提供了对芯片进行仿真测试的新方式，满足了系统级的芯片测试需求，可以为芯片设计人员提供更丰富的系统级芯片测试结果，提高芯片的开发和上线效率。