一种TO器件老化测试板
基本信息
| 申请号 | CN202122382121.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216485129U | 公开（公告）日 | 2022-05-10 |
| 申请公布号 | CN216485129U | 申请公布日 | 2022-05-10 |
| 分类号 | G01R1/04（2006.01）I;G01R1/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘建良;邱名武;韦国辉 | 申请（专利权）人 | 厦门三优光电股份有限公司 |
| 代理机构 | 厦门市天富勤知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | - |
| 地址 | 361000福建省厦门市火炬高新区创业园伟业楼N505室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型一种TO器件老化测试板，热沉通过若干个支点悬空地架设在承载板上，在热沉中部设有插槽，一感温热电偶插置在该插槽内；采用上述方案后，本实用新型热沉和芯片的温度基本上保持一致，感温热电偶插置在热沉内监测热沉的温度，这样可准确控制芯片的老化温度。 |
