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一种EEPROM芯片传递式测试方法及系统

基本信息

申请号	CN202010708698.8	申请日	-
公开（公告）号	CN111984478A	公开（公告）日	2020-11-24
申请公布号	CN111984478A	申请公布日	2020-11-24
分类号	G06F11/22(2006.01)I;G06F11/263(2006.01)I	分类	计算；推算；计数;
发明人	王锐;俞博文	申请（专利权）人	江苏艾科半导体有限公司
代理机构	南京申云知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	江苏艾科半导体有限公司
地址	212000江苏省镇江市镇江新区丁卯南纬四路36号
法律状态	-

摘要

本发明公开一种EEPROM芯片传递式测试方法，单次并行测试n颗芯片，对第一个芯片进行数据源的先写后读，读出的数据由测试机写入下一颗芯片并读出，以此类推，数据总共进行n‑1次传递，然后将从第n颗芯片读出的数据与PC机所给的源数据进行对比。若对比结果一致，则所有n颗被测芯片功能均正常，此时只需对比一次，而现有技术的测试方法的对比次数与测试芯片的数量相同，需对比n次；若对比结果不一致，则将前n‑1颗被测芯片的数据与源数据对比n‑2次，找出所有不良品，现有测试过程中，对比不一致的概率很小。本发明还公开一种EEPROM芯片传递式测试系统。本发明缩短了测试机测试EPPROM读写功能的时间和数据对比的时间，测试效率大大提高。