芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法

基本信息

申请号 CN202011515315.1 申请日 -
公开(公告)号 CN112666448A 公开(公告)日 2021-04-16
申请公布号 CN112666448A 申请公布日 2021-04-16
分类号 G01R31/28 分类 测量;测试;
发明人 王锐;娄建和;吴彩平 申请(专利权)人 江苏艾科半导体有限公司
代理机构 南京申云知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 田沛沛;邱兴天
地址 212000 江苏省镇江市潘宗路166号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开一种芯片CP测试中DELP系列探针台驱动配置方法,包括归类针卡分布图,为每一类分布图配置对应的驱动程序;根据归类情形制作包含所有驱动程序的列表和批处理文件;执行批处理文件,选择驱动程序编号,批处理程序则自动向测试机主机操作系统注册所用的探针台驱动;空跑CP测试,得到探针台晶芯坐标和测试机晶芯坐标,进行坐标比对,确认无误后,进行晶圆CP量产测试。采用本发明的驱动配置方法,可保证CP测试坐标完全匹配、测试机台从探针台可获取正确的晶圆位置坐标,进而可以正常进行芯片晶圆的CP测试;采用一个批处理即可处理9类驱动注册的方式,简化了操作人员的操作,且节省测试成本。