一种射频发射机杂散辐射测试系统及测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202010700702.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111707877A | 公开（公告）日 | 2020-09-25 |
| 申请公布号 | CN111707877A | 申请公布日 | 2020-09-25 |
| 分类号 | G01R29/10(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 卜景鹏;官国阳;严方勇;刘忠程 | 申请（专利权）人 | 广东圣大电子有限公司 |
| 代理机构 | 北京中济纬天专利代理有限公司 | 代理人 | 广东圣大电子有限公司 |
| 地址 | 528308广东省佛山市顺德区伦教街道办事处霞石村委会新熹四路北2号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种射频发射机杂散辐射测试系统及测试方法，该系统是一种近场测试系统，测试场为微波暗室；伺服系统为安装在微波暗室内的一轴精密转台,待测射频发射机的天线设置在精密转台上；射频分系统包括矢量网络分析仪，所述的矢量网络分析仪利用测试探头接收待测射频发射机天线的辐射信号完成待测射频发射机天线幅相参数测试。该测试方法采用场测试方法。本发明是利用一轴转台配合探头阵列实现电磁场的球面近场采样。 |
