在中测阶段写入芯片密钥的方法、装置及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111181665.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113868686A | 公开（公告）日 | 2021-12-31 |
| 申请公布号 | CN113868686A | 申请公布日 | 2021-12-31 |
| 分类号 | G06F21/60（2013.01）I;G06F21/76（2013.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 许建勋;张建平;匙嘉敏;张倩倩 | 申请（专利权）人 | 华大恒芯科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京元本知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 黎昌莉 |
| 地址 | 610015四川省成都市高新区和乐二街171号6栋2单元17层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种在中测阶段写入芯片密钥的方法、装置及存储介质，其中方法包括产品唯一码产生，产品密钥产生，产品密钥存储，密钥搜索，将密钥写入存储器和删除密钥等。通过本发明公开的方法极大的提高了安全类芯片密钥写入的效率，降低了人工成本，增强了密钥的安全性。 |
