一种偏光膜卷材良率的模拟方法
基本信息
| 申请号 | CN202110406246.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113155862A | 公开（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申请公布号 | CN113155862A | 申请公布日 | 2021-07-23 |
| 分类号 | G01N21/95;G01N1/28;G01B11/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 宋金波;严兵华;施明志;余镇宇 | 申请（专利权）人 | 恒美光电股份有限公司 |
| 代理机构 | 苏州威世朋知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 杨林洁 |
| 地址 | 215300 江苏省苏州市昆山经济技术开发区剑湖路111号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种偏光膜卷材良率的模拟方法，其主要用于生产偏光膜卷材时，通过自动光学检测系统生成的缺点数据，根据缺点在卷材的位置，缺点尺寸和严重度等模拟计算出特定裁切片材偏光片的良品率。本发明具有的有益效果为：自动模拟系统的良率准确度高，可根据模拟良率数据改善裁切方式，规避缺点分布较多的边侧，为后段物料处理提供闪边理论依据，有效提高实际产出的产品良率，同时与实际偏光膜的良率进行匹配，促进前后制程改善其制程工艺和操作手法，减少不必要的成品损失。 |
