测量设备点检方法及运行控制装置、计算机可读存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202011463864.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112577456B | 公开（公告）日 | 2022-05-24 |
| 申请公布号 | CN112577456B | 申请公布日 | 2022-05-24 |
| 分类号 | G01B21/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 周雪斌;万海林;方挣挣 | 申请（专利权）人 | 欣旺达电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区颐和路2号综合楼1楼、2楼A-B区、2楼D区-9楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种测量设备点检方法，其特征在于，包括以下步骤：获取若干级判定物料组；获取判定物料组的每一判定物料的测量值；将每一测量值与初测值数据库进行匹配，获取每一判定物料的单点偏差率；根据每一判定物料的单点偏差率，获取第一平均偏差率；根据第一平均偏差率，确定测量设备的准确性；若第一平均偏差率不在预设范围，获取下一级判定物料组的第二平均偏差率；根据第二平均偏差率，确定测量设备的准确性。通过本发明的测量设备点检方法无需制作仿形标定块，直接采用判定物料组进行点检，减少标定块的制作成本与工时，同时能快速准确地得到点检结果；同时测量多个判定物料进行点检，节省时间，提升点检效率。 |
