PoGoPIN使用寿命检测设备

基本信息

申请号 CN201620844625.0 申请日 -
公开(公告)号 CN206223880U 公开(公告)日 2017-06-06
申请公布号 CN206223880U 申请公布日 2017-06-06
分类号 G01R31/00(2006.01)I;G01M13/00(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I;B07C5/344(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 吕克振;蔡彬彬 申请(专利权)人 上海澜博半导体设备有限公司
代理机构 上海唯源专利代理有限公司 代理人 曾耀先
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路351号2号楼657-20室
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及PoGoPIN检测领域,尤其涉及一种对检测PoGoPIN的使用寿命的检测设备。为实现对PogoPIN的使用寿命进行检测,本实用新型提出一种PogoPIN使用寿命检测设备,其包括PogoPIN安装基台、测试手臂、驱动电机、电阻测试仪、处理控制装置和显示装置,测试手臂的测试端位于PogoPIN安装基台的上方并在驱动电机的驱动下进行上下重复运动,对位于PogoPIN安装基台上的待检测PogoPIN进行下压测试;在下压测试过程中,电阻测试仪对待检测PogoPIN的电阻进行实时检测并将检测到的电阻值传输到处理控制装置中;处理控制装置对接收到的电阻值进行处理得出待检测PogoPIN的使用寿命并传输到显示装置中进行显示。该PogoPIN使用寿命检测设备对PogoPIN的使用寿命进行检测,直观地得出待检测PogoPIN的使用寿命,检测简单方便。