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一种IGBT&KGD芯片的测试治具

基本信息

申请号	CN202110748516.4	申请日	-
公开（公告）号	CN113203943B	公开（公告）日	2021-09-14
申请公布号	CN113203943B	申请公布日	2021-09-14
分类号	G01R31/28;G01R1/02;G01R1/04	分类	测量；测试;
发明人	殷岚勇;徐亮;李亚鹏	申请（专利权）人	苏州韬盛电子科技有限公司
代理机构	北京华际知识产权代理有限公司	代理人	范登峰
地址	215000 江苏省苏州市工业园区唯文路18号
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种IGBT&KGD芯片的测试治具。本发明具有IGBT&KGD芯片测试的效果，旋紧盖板设置在测试箱上，测试箱内设置有加热棒与温度感应电偶，加热棒上套有绝缘保护套，绝缘保护套为氮化铝材料，绝缘保护套安装在测试箱底板上，测试箱体内设置有调整垫圈，调整垫圈设置在调整垫圈安装板内，调整垫圈安装板下方设置有塑料绝缘块，塑料绝缘块下方设置有测试箱底板，测试箱底板下表面设置有上铜块，上铜块内设置有上铜块探针，测试箱体两端设置有卡扣，卡扣与测试箱体之间设置卡扣弹簧，测试箱下端设置有测量机座，测量机座内设置有下铜块探针组，测量机座两侧设置有进气口与出气口，进出气体为氮气，测试箱底板下表面设置有分流探针组。