一种用于数字基带环回测试装置
基本信息
| 申请号 | CN201720567383.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN206879107U | 公开（公告）日 | 2018-01-12 |
| 申请公布号 | CN206879107U | 申请公布日 | 2018-01-12 |
| 分类号 | H04W24/06;H04B17/00 | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 李科奕;侯斌 | 申请（专利权）人 | 无锡德思普科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京科家知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈娟 |
| 地址 | 214000 江苏省无锡市新吴区太湖国际科技园大学科技园清源路530大厦A801号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了数字基带环回测试技术领域的一种用于数字基带环回测试装置，包括第一SB3500芯片模块、同步晶振模块、缓存模块、第二SB3500芯片模块、电源模块和通信模块，所述第一SB3500芯片模块分别电性双向连接同步晶振模块和缓存模块，所述同步晶振模块和缓存模块均电性双向连接第二SB3500芯片模块，本实用新型基于SB3500的数字基带环回测试系统结构简单，使用方便，有效解决纯数字基带环回测试验证，本实用新型主要为数字基带环回实现搭建一个测试装置，实现由软件仿真到硬件验证，并且避开除数字基带以外的干扰因素，具有真实可靠性。 |
