一种点阵测距机构
基本信息
申请号 | CN202022721715.X | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213932441U | 公开(公告)日 | 2021-08-10 |
申请公布号 | CN213932441U | 申请公布日 | 2021-08-10 |
分类号 | G01B21/08(2006.01)I;G01B21/30(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 李骏棋;钟俊超;卓炎 | 申请(专利权)人 | 佛山宇仁智能科技有限公司 |
代理机构 | 佛山帮专知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 颜春艳 |
地址 | 528200广东省佛山市南海区狮山镇塘头村委会地段塘头工业园自编1号厂房 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型提出了一种点阵测距机构,包括测距台,测距台上设有若干个通孔;若干通孔上均活动设置有用于测距工件上表面的测距模块;若干通孔和测距模块在测距台上呈阵列分布。通过测距模块阵列分布就可以起到对工件上表面进行多点测距操作的作用,对工件的上表面进行多点测距,就能够实现对工件的精准测距的目的。进而实现测距工件上表面的测距目的,提高工件上表面的测距效率,从而有效减少对其他已完成打印工序的工件区域的工艺温度的影响,进而确保了产品质量,准确测量到工件的表面的距离。 |
