一种半导体载带拉力测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022181240.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213516626U | 公开（公告）日 | 2021-06-22 |
| 申请公布号 | CN213516626U | 申请公布日 | 2021-06-22 |
| 分类号 | G01N3/08（2006.01）I;G01N3/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王玉桃;万鑫 | 申请（专利权）人 | 常州银河世纪微电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 常州市科谊专利代理事务所 | 代理人 | 孙彬 |
| 地址 | 213022江苏省常州市新北区长江北路19号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体载带拉力测试装置，它包括机架、驱动机构、载带固定座、盖带夹和拉力计，所述拉力计固定在机架的一端，所述机架的另一端内部设置有电机，所述载带固定座位于拉力计的测力钩一侧，所述盖带夹固定在拉力计的测力钩上，所述载带固定座的下方开设有凹槽，所述驱动机构位于凹槽内，所述电机通过驱动机构带动载带固定座在机架上做往复运动。本实用新型提供一种半导体载带拉力测试装置，它可以提高传统拉力测试的准确性。 |
