一种半导体功率器件测试的装置
基本信息
| 申请号 | CN202021587744.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212872754U | 公开（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申请公布号 | CN212872754U | 申请公布日 | 2021-04-02 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王玉桃 | 申请（专利权）人 | 常州银河世纪微电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 常州市科谊专利代理事务所 | 代理人 | 孙彬 |
| 地址 | 213022江苏省常州市新北区长江北路19号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体功率器件测试的装置，它包括大板、器件承载板、活动支架和探针组件，所述大板的中部开设有滑槽，所述器件承载板可在滑槽中移动，所述滑槽的两侧分别设置有支撑杆，所述活动支架套设在支撑杆上并可在支撑杆上滑动，所述支撑杆上套设有弹簧，所述弹簧的一端抵接在大板上，所述弹簧的另一端抵接在活动支架上，所述探针组件固定在活动支架的与大板相对的一面。本实用新型提供一种半导体功率器件测试的装置，它可以提高传统测试的准确性，提高工作效率。 |
