一种提高硅电容压力传感器过载能力的方法
基本信息
申请号 | CN200910010195.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN101476960B | 公开(公告)日 | 2010-08-18 |
申请公布号 | CN101476960B | 申请公布日 | 2010-08-18 |
分类号 | G01L9/12(2006.01)I;G01L1/14(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张治国;李颖;张娜;匡石;刘剑 | 申请(专利权)人 | 浙江中感传感器科技有限公司 |
代理机构 | 沈阳科威专利代理有限责任公司 | 代理人 | 沈阳仪表科学研究院;浙江中感传感器科技有限公司;沈阳仪表科学研究院有限公司 |
地址 | 110043 辽宁省沈阳市大东区北海街242号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 一种提高硅电容压力传感器过载能力的方法,采用阳极键合工艺,其特征在于玻璃的上固定极板(1)、玻璃的下固定极板(3)相对内侧腐蚀区预留出限位点(8),硅中心极板(2)的可动电极(6)与限位点(8)之间有金属电极(9);在传感器的量程工作范围内,可动电极(6)不会碰到限位点(8),当外加工作压力超过正常量程后,可动电极(6)由于位移加大,会与限位点(8)接触,此时存在于所述各极板之间的两电容C1、C1发生相应的变化,实现对外加压力的测量;如果外加压力再增加,则可动电极(6)被限位点(8)抵住而不再移动,实现了对可动电极(6)的过载限位保护。本发明既保证了过载时传感器不被压力损坏,同时又满足调整灵敏度和过载限位保护的矛盾要求。 |
