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GaN功率器件静态参数的自动测试系统及其测试方法

基本信息

申请号 CN202110429972.2 申请日 -
公开（公告）号 CN113189467A 公开（公告）日 2021-07-30
申请公布号 CN113189467A 申请公布日 2021-07-30
分类号 G01R31/26（2014.01）I;G01R31/01（2020.01）I 分类 测量；测试;
发明人 陈丽萍;柳永胜;陈辉;程新 申请（专利权）人 苏州英嘉通半导体有限公司
代理机构 南京聚匠知识产权代理有限公司 代理人 刘囝
地址 215100江苏省苏州市相城区青龙港路66号领寓商务广场1栋705/706室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种GaN功率器件静态参数的自动测试系统及其测试方法，包括依次串联连接的测试板、测试仪器、串口和上位机，测试仪器接收串口传输的信号，并根据接收的信号信息提供给测试板对应的电压、电流；同时对测试板的输出电压、电流信号进行测量，并将测量结果输送至串口；测试板在测试仪器提供的电压、电流下工作，工作完成后的输出结果由测试仪器进行测量；上位机通过串口控制测试仪器的输出电压、电流，并读取测试仪器的输入电压、电流进行数据处理和显示。本发明可避免在测试多个参数时逐个手动更改测试仪器参数设置，避免人工记录测试数据，同时对测试结果的正确与否可以进行直观的显示，大大提升了测试效率，减少人为误操作。