首页/ 苏州英嘉通半导体有限公司/ 专利详情

一种通过AD转换结果进行选择的测试开发方法和装置

基本信息

申请号 CN202011421232.6 申请日 -
公开（公告）号 CN112557875A 公开（公告）日 2021-03-26
申请公布号 CN112557875A 申请公布日 2021-03-26
分类号 G01R31/28(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 陈丽萍;陈辉;柳永胜;胡峰;白强;唐瑜;吴文英;于洁 申请（专利权）人 苏州英嘉通半导体有限公司
代理机构 南京聚匠知识产权代理有限公司 代理人 刘囝
地址 215100江苏省苏州市相城区青龙港路66号领寓商务广场1905室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种通过AD转换结果进行选择的测试开发方法和装置，包括用于对待测试芯片进行测试的测试机，所述测试机包括用于为待测试芯片供电的电压提供单元、测量单元和数据处理单元，所述测试单元与数据处理单元连接；所述电压提供单元与待测试芯片的ADC输入端口连接，所述测试单元与待测试芯片的测试端口连接。本发明有效利用目前市面上大部分的数字、模拟或数模混合芯片均有内部ADC模块和存储单元这一特性，提高量产测试的开发便利性，降低量产测试成本。