一种应用于芯片低压过程的复位防错电路与方法
基本信息
| 申请号 | CN202110670737.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113392619A | 公开（公告）日 | 2021-09-14 |
| 申请公布号 | CN113392619A | 申请公布日 | 2021-09-14 |
| 分类号 | G06F30/398（2020.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 徐望成;林建安;袁玄玄 | 申请（专利权）人 | 上海磐启微电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海旭诚知识产权代理有限公司 | 代理人 | 郑立 |
| 地址 | 201210上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区盛夏路666号、银冬路122号4幢3层01-02、04-05 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种应用于芯片低压过程的复位防错电路与方法，涉及电子电路技术领域，包括：步骤1、通过大量测试采集芯片复位特征数据；步骤2、根据所述复位特征数据得到复位特征曲线；步骤3、建立预测的数学模型；步骤4、元器件参数匹配计算。本发明在芯片电源异常时使芯片处于复位状态，在异常消失时自动释放复位，使芯片可以自行恢复正常，从而减少外部环境对芯片的影响。 |
