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上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机

基本信息

申请号 CN202022219975.7 申请日 -
公开（公告）号 CN213022827U 公开（公告）日 2021-04-20
申请公布号 CN213022827U 申请公布日 2021-04-20
分类号 G01N21/01(2006.01)I;G01N21/95(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 杨建设;张雅凯;缪凯;刘雪飞 申请（专利权）人 昆山思特威集成电路有限公司
代理机构 深圳中一联合知识产权代理有限公司 代理人 刘艳
地址 215300 江苏省苏州市昆山市锦溪镇锦顺路188号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供了一种上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，上盖组件包括上盖支架、镜头固定座、设于镜头固定座内的镜头、上压片固定座、上压片、设于上盖支架内的第一加热结构以及上盖电路板，上盖支架的一侧开设有镜头腔，上盖支架的另一侧开设有压片腔，镜头固定座固定于镜头腔内，上压片固定座固定于压片腔内，上压片固定于上压片固定座且用于压紧芯片。本实用新型提供的上盖组件、芯片测试机构及芯片测试一体机，通过设置镜头固定座和上压片固定座，使得在更换芯片之后，可以通过调整镜头相对镜头固定座的位置或者更换镜头固定座、通过调整上压片相对上压片固定座的位置或者更换上压片固定座即可以适用于不同的芯片。