首页/ 北京大家玩科技有限公司/ 专利详情

非易失性随机访问存储器测试方法

基本信息

申请号 CN201110086332.2 申请日 -
公开（公告）号 CN102737724B 公开（公告）日 2016-04-06
申请公布号 CN102737724B 申请公布日 2016-04-06
分类号 G11C29/48(2006.01)I 分类 信息存储;
发明人 张磊 申请（专利权）人 北京大家玩科技有限公司
代理机构 北京高航知识产权代理有限公司 代理人 赵永强
地址 100020 北京市朝阳区工人体育场北路8号院2号楼12层01-1503
法律状态 -

摘要

摘要 一种非易失性随机访问存储器测试方法，该方法包括：设置诊断模式的测试参数及压力模式的测试参数；初始化所设置的测试参数以得到诊断模式及压力模式；在诊断模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；在压力模式下对BIOS的非易失性随机访问存储器进行测试；生成诊断模式下进行测试的日志文件及压力模式下进行测试的日志文件。本发明还提供一种非易失性随机访问存储器测试系统。利用本发明测试人员可以不用停留在测试机台旁边，完全摆脱测试人员手动测试，程序自动侦测对BIOS中NVRAM的读写的开始和结束时间，指定保存文件后，相关的日志文件自动保存，方便测试人员查看。