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一种基于单像素特征聚类建立集群的液晶屏缺陷检测方法

基本信息

申请号 CN202111204952.1 申请日 -
公开（公告）号 CN114022415B 公开（公告）日 2022-06-28
申请公布号 CN114022415B 申请公布日 2022-06-28
分类号 G06T7/00（2017.01）I;G06V10/40（2022.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06T7/90（2017.01）I;G06V10/762（2022.01）I;G06V10/764（2022.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 漆长松;李勇 申请（专利权）人 成都博视广达科技有限责任公司
代理机构 成都睿道专利代理事务所（普通合伙） 代理人 -
地址 610000四川省成都市高新区盛和一路88号1栋2单元17层1713号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种基于单像素特征聚类建立集群的液晶屏缺陷检测方法，首先，获取液晶屏RGB三通道图像，还包括S1.获取所述图像各像素点的灰度值及r、g、b通道值，将图像转化为灰度图；S2.对灰度图中的每个像素点进行遍历计算，通过多模态与多尺度的特征提取核，生成每个所述像素点的特征向量；S3.根据所述特征向量聚类的结果以及聚类后集群中的像素点的坐标分布情况以判断液晶屏是否存在缺陷；采用本方法不需要对缺陷样本进行收集，在算法落地应用中更具备开展实施性，且由于参数的规模小，有效的提高缺陷检测算法的效率；另与传统的局部像素值等算法比较，本方法所提供的缺陷检测更具备全面性。