测量头及测量装置

基本信息

申请号 CN202122001161.0 申请日 -
公开(公告)号 CN215984439U 公开(公告)日 2022-03-08
申请公布号 CN215984439U 申请公布日 2022-03-08
分类号 G01B21/00(2006.01)I;G01B21/18(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 张秉君 申请(专利权)人 富联裕展科技(深圳)有限公司
代理机构 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 代理人 关雅慧
地址 518109广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂房5栋C09栋4层、C07栋2层、C08栋3层4层、C04栋1层
法律状态 -

摘要

摘要 一种测量头,用于测量台阶孔。台阶孔包括连通的第一孔和第二孔,第一孔的孔径大于第二孔的孔径。测量头包括测量主体、连接件、定位件和弹性件。测量主体包括一测量部,测量部的外径大于第二孔的孔径。定位件设于测量主体内,定位件的外径与第二孔的孔径相匹配。弹性件设于测量主体内且抵持定位件,弹性件通过弹力推动定位件伸出测量部,使定位件穿过第一孔并伸入第二孔。定位件对测量主体进行导向,使测量部伸入第一孔并抵接第二孔的孔口,以测量第一孔的深度。上述测量头及测量装置,通过定位件与测量主体,利用弹性件推动定位件伸入第二孔,通过定位件伸入第二孔定位,测量主体在定位件的导向下伸入第一孔,测量第一孔的深度,提升检测精度。