校准系统、校准方法及校准装置
基本信息
| 申请号 | 202011027687X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112247741A | 公开（公告）日 | 2021-01-22 |
| 申请公布号 | CN112247741A | 申请公布日 | 2021-01-22 |
| 分类号 | B24B19/00(2006.01)I; | 分类 | 磨削；抛光; |
| 发明人 | 杨元坤;张汉杰;钟春明;黎海军 | 申请（专利权）人 | 富联裕展科技（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市赛恩倍吉知识产权代理有限公司 | 代理人 | 林天成 |
| 地址 | 518109广东省深圳市观澜富士康鸿观科技园B区厂房5栋C09栋4层、C07栋2层、C08栋3层4层、C04栋1层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供一种校准系统，用于确定打磨头的基准信息以通过打磨头打磨工件，该基准信息包含第一位置，校准系统包含打磨头、控制器和传感模组，控制器和打磨头耦接，控制器用于控制打磨头沿第一方向运动；传感模组用于基于打磨头沿第一方向运动，感测打磨头及工件中的至少一个所受的力，以形成第一压力值；控制器进一步用于确定第一压力值超过预设值，并基于第一压力值超过预设值确定第一位置。上述校准系统基于受力信息确定打磨头的基准信息，结构简单，便于实现且校准精度高，本申请同时提供一种校准方法和校准装置。 |
