用于测量锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的卡尺
基本信息
| 申请号 | CN202120705212.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214583144U | 公开（公告）日 | 2021-11-02 |
| 申请公布号 | CN214583144U | 申请公布日 | 2021-11-02 |
| 分类号 | G01B21/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 吴坤;詹文革;宋德旭 | 申请（专利权）人 | 陕西斯坦特生物科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 宋秀珍 |
| 地址 | 722306陕西省宝鸡市眉县金渠镇霸王河工业园 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 提供一种用于测量锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的卡尺，包括数显卡尺，所述数显卡尺的前爪和后爪的内侧壁上分别固定有前辅助测量件和后辅助测量件，锻件设于前辅助测量件和后辅助测量件之间并通过移动后爪使前辅助测量件和后辅助测量件内端部分与测量位置接触后实现对锻件错移及锻件凹面区域最小尺寸的测量。本实用新型通过在数显卡尺的前爪和后爪的内侧壁上分别固定有前辅助测量件和后辅助测量件，可以测量锻件错移及锻件凹面区域最小厚度，解决现有技术中锻件错移测量困难、凹面厚度测量工具单一且测量不便的问题，结构简单，加工方便快捷，降低锻件测量难度，提高测量效率，具有较高的使用价值。 |
