基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法
基本信息
| 申请号 | CN201410642109.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104331569B | 公开（公告）日 | 2017-05-24 |
| 申请公布号 | CN104331569B | 申请公布日 | 2017-05-24 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I;G06N3/00(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 俞洋;彭宇;陈修远;彭睿 | 申请（专利权）人 | 哈尔滨工业大学高新技术开发总公司 |
| 代理机构 | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 | 代理人 | 哈尔滨工业大学;哈尔滨工业大学高新技术开发总公司 |
| 地址 | 150001 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，涉及一种大规模集成电路的小时延故障测试通路选择方法。它是为了解决现有基于贪婪算法对小时延缺陷的测试通路选择方法时间复杂度和空间复杂度过高的问题。本发明所述的基于关键节点选择和蚁群优化算法的大规模集成电路小时延故障测试通路选择方法，通过使用关键节点选择来优化蚁群优化算法的搜索时间，进而快速选择出小时延缺陷测试通路，使搜索时间减少为原时间的20％至25％。不仅降低了时间复杂度，也降低了空间复杂度。适用于在大规模集成电路小时延故障测试通路的选择。 |
