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太赫兹瞬态热成像检测和层析成像系统及方法

基本信息

申请号 CN201510157222.9 申请日 -
公开（公告）号 CN104764713B 公开（公告）日 2018-10-23
申请公布号 CN104764713B 申请公布日 2018-10-23
分类号 G01N21/3586 分类 测量；测试;
发明人 何赟泽;杨瑞珍 申请（专利权）人 安徽太测临峰光电科技股份有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 233060 安徽省蚌埠市经济开发区财院路10号106号楼
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了太赫兹瞬态热成像检测和层析成像系统及方法。系统由控制模块、太赫兹光源、太赫兹镜片组、热像仪、计算机及多个算法模块等组成。采用脉冲或连续太赫兹光束对被检对象进行加热，采用热像仪记录被检对象表面的瞬态温度信号。对不同时刻的热像图进行空间导数变换，检测浅层缺陷；对瞬态温度信号和参考信号进行差分、一阶求导、二阶求导和傅里叶变换等处理，提取最大值时间、峰值时间、分离时间、分离频率、峰值频率等作为特征值；采用特征值进行成像显示，实现缺陷检测；建立特征值与深度的定量关系，对未知缺陷的深度进行定量；利用不同时间范围的温度变化率，实现不同深度范围的层析成像。该发明可应用于无损检测、医学成像等领域。