雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置
基本信息
申请号 | CN202210169251.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN114594471A | 公开(公告)日 | 2022-06-07 |
申请公布号 | CN114594471A | 申请公布日 | 2022-06-07 |
分类号 | G01S13/88;G01S7/40 | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 洪天晟;李春来;苏彦;张宗煜;刘晨迪;王瑞刚;戴舜;刘书宁;杜维 | 申请(专利权)人 | 中国科学院国家天文台 |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 樊晓 |
地址 | 100012 北京市朝阳区大屯路甲20号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本公开提供了一种雷达高度的测量方法和雷达高度的测量装置。该方法包括:对从雷达获取的探测数据进行电离层校正,得到校正系数和与校正系数对应的目标脉压系数,其中,探测数据是雷达对星体表面进行探测所获得的;根据目标脉压系数,对探测数据进行脉冲压缩,得到压缩数据,其中,压缩数据的分辨率满足预设分辨率要求;基于预设挑选规则,从压缩数据中找出压缩数据中目标回波位置;根据目标回波位置对应的时延、探测数据的采样率和雷达接收探测数据的开窗高度,确定雷达的高度信息。 |
