用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置
基本信息
| 申请号 | CN201620834141.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN206223096U | 公开（公告）日 | 2017-06-06 |
| 申请公布号 | CN206223096U | 申请公布日 | 2017-06-06 |
| 分类号 | G01B11/02(2006.01)I;G01B11/16(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 高文武;屈战辉 | 申请（专利权）人 | 西安敏文测控科技有限公司 |
| 代理机构 | 西安文盛专利代理有限公司 | 代理人 | 西安敏文测控科技有限公司 |
| 地址 | 710100 陕西省西安市航天基地神舟四路航创国际广场A区六楼607室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于大型结构物变形或位移参数的自校准式测量装置，包括成像系统和安装在大型结构物测量点上的不少于一只的测量靶标，还包括安装在大型结构物上变形或位移变化可忽略区域的基准靶标，基准靶标和测量靶标在成像系统的敏感元的不同位置上成像，测量点的位移或变形参数根据测量靶标的结果和基准靶标的结果计算得到。本实用新型而克服了测量系统因环境温度、时效性或成像系统因自身安装基础变形引起的测量误差，提高了测量精度。 |
